Tùng điện tử : SNJ54BCT8374AFK

Nhà xuất bản : Texas Instruments

Bao bì :

Pins :

Mô tả : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Nhiệt độ : Min °C | Max °C

Datasheet : SNJ54BCT8374AFK PDF

• SNJ54BCT8373AFK
• SNJ54BCT8373AJT
• SNJ54BCT8374AFK
• SNJ54BCT8374AJT